Изображение получено на электронном сканирующем микроскопе Tescan. На фото видно, как меняется рост поверхностного заряда при облучении поверхности кристалла электронным пучком. 

Когда происходит облучение, на поверхности ниобата лития скапливается избыточный заряд, что приводит к образованию сильного электрического поля и последующего движения доменной стенки. Доменная стенка область с нарушением порядка кристаллической решетки, вдоль которой происходит соприкосновение двух разнонаправленных доменов. Она может удерживать подвижные заряды. На фотографии ярко светящиеся стрелы характеризуют области с сильным зарядом, который скапливается на остриях доменных стенок.

Изучение структурных свойств ниобата лития и оптических волноводов на их основе проводится сотрудниками лаборатории Сборки и юстировки устройств световодной фотоники в рамках выполнения фундаментальной научно-исследовательской работы «Исследование физических механизмов и природы шумов в интегрально-оптических схемах и их влияния на прецизионные оптические измерения». Работа посвящена углубленному изучению интегрально-оптических модуляторов на основе ниобата лития и направлена на стабилизацию характеристик модуляторов. 

Как считают ученые, результаты этого исследования могут иметь большие перспективы использования кристаллов ниобата лития для обработки сигналов в высокоточных сенсорах.

Перейти к содержанию